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Facility für Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie

Die Scanning Electron Microscopy (SEM) Facility verfügt über ein ultrahochauflösendes Feldemissions-"in-lens"-Rasterelektronenmikroskop samt der für die Probenvorbereitung erforderlichen ergänzenden Geräte. Die Facility unterstützt und berät bei gängigen Verfahren zur Probenvorbereitung und deren Analyse mittels REM.

Die Facility unterstützt die Planung und Durchführung von REM-basierten Untersuchungen. Nach einer ersten Beurteilung der Probeneignung und der potenziellen diagnostischen Aussagekraft von Ergebnissen, die mit REM potenziell erreichbar sind, können Proben für Testuntersuchungen von Mitarbeitern der Facility aufbereitet und bewertet werden. Die Facility bietet auch ein Training zur Probenvorbereitung für das konventionelle REM sowie ein aufwändigeres Training für das Immuno-SEM biologischer Proben an. Für groß angelegte, mehrteilige Studien bietet die Facility zusätzlich Anleitungen für den Einsatz von Mikroskopen und Weiterbildungen zur Probenauswertung.

Großgeräte

  • Hitachi S5500. Rasterelektronenmikroskop, ausgestattet mit einer Kaltfeldemissionskathode und einem speziellen elektronenoptischen "in-lens"-System. Zusätzlich zum sekundären Elektronendetektor ist das Mikroskop mit zwei rückgestreuten Elektronendetektoren und einem STEM-Detektor ausgestattet. Der S5500 ist optimiert für ultrahohe Auflösung im niedrigen Nanometerbereich innerhalb kleinflächiger Proben (< 20 mm2) bei niedrigen Beschleunigungsspannungen.
  • Bal-Tec CPD 030. Kritischer Punkttrockner, zur schonenden Trocknung biologischer Proben.
  • Leica EM MED020. Vielseitig einsetzbares Hochvakuum-Beschichtungssystem, das mit einem quartz-balance film thickness monitor ausgestattet ist und derzeit hauptsächlich für die hochauflösende Sputter-Beschichtung von Proben mit dünnen Schichten aus Pt- oder Cr-Metallen eingesetzt wird.

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